検査?調査用測定機器
設備概要 所有設備一覧（各種測定機器） 所有設備一覧（調査用測定機器）
設備概要
表面欠陥検査裝置をはじめ、機械的特性や解析などの各種測定機器を所有しております。
表面欠陥分類検査（CCD検査ライン）
表裏同時外観検査による両面保証が可能です。
検出物はオールデジタル処理により、畫像?大きさ?波形?位置情報がデータ化され、検査記録として保管されます。
リアルタイム特徴分類処理を施し、ご要望に応じた欠陥分類検査が可能です。
?所有設備一覧
?■各種測定機器
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設備名 |
臺數 |
備考【JIS規格】 |
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CCD検査ライン |
1臺 | 表面欠陥分類検査 |
| 硬さ試験機（HV0.05～HV1） | 1臺 |
【JIS Z 2244】?ビッカース硬さ試験-試験方法 |
| 硬さ試験機（HV1～HV30） | 1臺 | |
| 引張試験機 | 1臺 |
【JIS Z 2241】 金屬材料引張試験方法 |
| 表面粗さ測定器 | 1臺 |
【JIS B 0633】 製品の幾何特性仕様(GPS) ?。砻嫘誀睿荷窀袂€方式 ?。砻嫘誀钤u価の方式及び手順 |
| ばね限界値試験機（繰り返しタワミ式） | 1臺 |
【JIS H 3130-7.4】 繰り返しタワミ試験またはモーメント式試験?? |
| ばね限界値試験機（モーメント式）? | 1臺 | |
| 蛍光Ｘ線膜厚測定機 | 1臺 | ? |
| 引っ掻き試験機 | 1臺 | ? |
| エリクセン試験機 | 1臺 | 【JIS Z 2247】 エリクセン試験方法 |
| 磁気測定裝置 | 1臺 | ? |
| 抵抗測定器 | 1臺 | ? |
| 測定投影機 | 1臺 | 【JIS B 7184】 測定投影機 |
?■調査用測定機器
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設備名 |
臺數 |
備考【JIS規格】 |
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蛍光Ｘ線成分分析裝置 |
1臺 | ? |
| 走査型電子顕微鏡(SEM) | 1臺 | ＋EDX（元素分析が可能） |
| 走査型電子顕微鏡（FESEM) | 1臺 | ＋EBSD（結晶方位解析が可能） |
| ソルダーチェッカー | 1臺 | ? |
| 鏡面光沢度計 | 1臺 |
【JIS K 5600-4-7】 塗料一般試験方法 ?－第4部 ： 塗膜の視覚特性－第7章 ： 鏡面光沢度 |
| デジタルマイクロスコープ | 1臺 | ? |
| 高精度疲労試験機 | 1臺 |
卓上型 ： 荷重範囲2.5-1000N（JIS 0.5級） 【JIS Z 2273】 金屬材料の疲れ試験方法通則 【JIS Z 2275】 金屬平板の平面曲げ疲れ試験方法 |
| シャルピー衝撃試験機 | 1臺 | 【JIS Z 2242】 金屬材料のシャルピー衝撃試験方法 |
